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數(shù)字IC測試儀

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GUT-6000B數(shù)字IC測試儀主要特點：

GUT-6000B一款臺式數(shù)字IC測試儀。為了自動完成測試任務(wù)，GUT-6000B包含自動搜索和循環(huán)測試等功能，以及自能化連續(xù)偵測壞損IC功能。自我診斷和過載保護(hù)功能使它更接近零維護(hù)，減少了用戶不必要的麻煩。

可測試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個機(jī)型測量所有器件的解決方案。

循環(huán)測試，自動搜尋，自我診斷。過載保護(hù)，測量1800種設(shè)備

支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS

測試管腳：28-pin

 

GUT-6000B產(chǎn)品規(guī)格：

產(chǎn)品規(guī)格：

測試范圍

 

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量測種類

 

約 1800 種

測試電壓

 

2.5/3.0/3.3/5V DC

測試時間

 

高測試速度，平均 0.6 秒可完成一個 IC

使用電源

 

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

 

335(寬) x 105(高) x 300(長) mm
約 1.5 公斤

 

 

GUT-6000B訂購信息：

使用手冊x1， 電源線x1

 

 

 

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