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LCR測試儀

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生產線的產品

C測試儀 3506-10

對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試

 

  • 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
  • 提高了抗干擾性,在產線的上也能實現高反復精度
  • 1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩定測量
  • 根據BIN的測定區分容量

 

輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網絡連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬件流控制之外的情況下可以使用。

 

 

基本參數

 

測量參數

C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ)

測量范圍

C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9

基本精度

(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

測量頻率

1kHz, 1MHz

測量信號電平

500mV, 1V rms

輸出電阻

1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

顯示

LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定)

測量時間

1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz

機能

BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

電源

AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, zui大40VA

體積及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

電源線× 1, 電源備用保險絲× 1,使用說明書× 

 

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