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  • 精密lcr測試儀3504-40

    精密lcr測試儀?高速測量2ms?能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷?對應測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試?3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

  • LCR測試儀3504-50

    LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

  • LCR測試儀3504-60

    LCR測試儀 ?高速測量2ms ?能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ?對應測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ?3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ?3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

  • 阻抗分析儀IM7585

    阻抗分析儀 ?測量頻率:1MHz~1.3GHz ?測量時間:Z快0.5ms(模擬測量時間) ?測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ?基本精度:±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7583

    阻抗分析儀 ?測量頻率:1MHz~600MHz ?測量時間:Z快0.5ms(模擬測量時間) ?基本精度:±0.65% rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7581

    阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時間:Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM7580A

    阻抗分析儀 ?測量頻率1MHz~300MHz ?測量時間:Z快0.5ms ?基本精度±0.72%rdg. ?緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ?豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

  • 阻抗分析儀IM3590

    阻抗分析儀 ?適用于離子運動和溶液電阻測量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號源 ?1臺機器即可實現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ?可測量電池的無負載狀態(tài)產生的內部電阻 ?Z快2ms的高速測量,實現(xiàn)掃描測量的高速化 ?基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應 適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量

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